所以接下來再發(fā)布一個(gè)缺陷（顆粒）檢測(cè)設(shè)備的供應(yīng)商數(shù)據(jù)。這個(gè)領(lǐng)域，尤其是有圖形晶圓的缺陷檢測(cè)可能是所有檢測(cè)設(shè)備里技術(shù)門檻[敏感詞]的領(lǐng)域了（號(hào)稱小光刻機(jī)的就是這種設(shè)備）

這個(gè)領(lǐng)域中的高端設(shè)備幾乎被KLA一家壟斷。雖然從下表中看起來國(guó)產(chǎn)設(shè)備廠商很多，但據(jù)我溝通了解，目前國(guó)產(chǎn)設(shè)備在KLA的一些高端型號(hào)設(shè)備面前差距還非常大。短期內(nèi)要想突破難度極高

目前我只是先把廠商和產(chǎn)品大類的信息統(tǒng)計(jì)出來，供大家參考。后續(xù)我會(huì)進(jìn)一步和各家廠商（尤其是國(guó)內(nèi)廠商）交流，把更加具體的技術(shù)指標(biāo)、應(yīng)用范圍和對(duì)標(biāo)海外產(chǎn)品型號(hào)的信息也統(tǒng)計(jì)出來

麻煩大家多多支持。能根據(jù)下表給我提供修改意見和補(bǔ)充信息就感激不盡了

注：因?yàn)橐恍┨厥庠颍袀€(gè)別廠商暫時(shí)沒有列出，希望大家理解

免責(zé)聲明：本文采摘自“半導(dǎo)體綜研”，本文僅代表作者個(gè)人觀點(diǎn)，不代表薩科微及行業(yè)觀點(diǎn)，只為轉(zhuǎn)載與分享，支持保護(hù)知識(shí)產(chǎn)權(quán)，轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明原出處及作者，如有侵權(quán)請(qǐng)聯(lián)系我們刪除。